財団法人神奈川科学技術アカデミー

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ものづくり企業必見!KAST分析セミナー
「X線光電子分光分析装置(μ―XPS)による実演分析セミナー」

X線光電子分光分析装置(μ―XPS)による実演分析セミナー【終了致しました。多数のご参加いただきありがとうございました。】

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お申し込み

ご好評につき、お申し込み受け付けは終了いたしました。ありがとうございました。

開催日時・場所・参加費等

開講期間

平成23年6月30日(木) 13:00~17:00

申込締切

先着順にて承ります。

会場

かながわサイエンスパーク(KSP)内  東棟1F  101号室
(川崎市高津区坂戸3-2-1)
◆ JR南武線「武蔵溝ノ口」・東急田園都市線「溝の口」下車
>> 地図はこちら
>> シャトルバス時刻表(別ウィンドウで開きます)

※お車でのご来場はご遠慮ください。

対象者

本セミナーは中小企業の方に限らせていただきます。

受講料

無料

プログラム

 2011年6月30日(木)
13:00~16:00

μ-XPS(アルバック・ファイ社Quantera SXM) による測定実演

    表面分析装置は材料、めっき表面の変色や剥離などの問題、製造工程での表面洗浄、表面改質の評価などに欠かせないツールとなっています。
    X線光電子分光分析装置(XPSまたはESCA)は表面分析装置の中では表面組成やその結合情報に関する情報を取得できることで知られています。
    本実演セミナーでは表面分析について、他の分析装置と比較しながらご説明するとともに、XPSで各種材料の測定行い、どんな情報が得られるのかを実演を交えてご理解いただきます。
16:15~17:00

KAST高度計測センターの見学

*予告なく変更となる場合がございます。ご了承下さい

 

問い合わせ先

高度計測センター 材料解析グループ
TEL : 044-819-2105 FAX :044-819-2108

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