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ものづくり企業必見!KAST分析セミナー「こんなことがわかる!」

【終了致しました。多数のご参加いただきありがとうございました。】
ものづくり企業必見!KAST分析セミナー

  KAST高度計測センターでは昨年度、新たに「走査型X線光電子分光分析装置(μ-XPS)」と「微小部蛍光X線分析装置(XRF)」を導入いたしました。これにより素材の定性分析、RoHS規制対応、めっき試料における極表面分析などあらゆる場面で高精度の分析が可能になりました。

 今回はこの2機種による分析事例紹介と実機による測定デモを中心とした分析セミナーを開催いたします。

日時

平成23年12月15日(木) 13:00~17:30

募集人数

30名 先着順にて承ります

受講料

無料

対象者

このようなことにお困りの方にお勧めします。
 ● めっき製品表面に変色が! 原因?を調べなければ!
 ● 部品にトラブル発生! 調査解析どう進めよう?
 ● 顕微鏡ではキレイに見えるけれど、表面に薄い膜ができているらしい・・・
 ● めっきや素材、微小異物の構成成分を調べたい!
 ● 研究開発や品質管理に、どうやら分析機器による解析が必要らしい?

開催場所





 
かながわサイエンスパーク(KSP)内 研修室
(川崎市高津区坂戸3-2-1)
◆JR南武線「武蔵溝ノ口」駅・東急田園都市線「溝の口」駅下車 シャトルバス5分
>> Mapはこちら

お申し込み

ご好評につき定員に達したため、お申し込み受け付けは終了いたしました。
ありがとうございました。

内容

2011年12月15日(木)
 KAST分析セミナー  こんなことがわかる!
 めっき試料、RoHS規制、異物付着 XPS・XRF事例紹介と実機による測定デモ

タイトル ご挨拶

13:00~13:05
(財)神奈川科学技術アカデミー 高度計測センター センター長
村井 省二

タイトル 微小部・高感度蛍光X線分析装置SEA6000VX HSFinderを利用した材料評価事例の紹介

13:05~14:05
SEA6000VX HSFinderは、従来装置で対応が困難であった微小部の測定や基板全面の有害物質管理が行え、様々なシーンにおける分析要求にお応えします。
本セミナーでは、膜厚測定をはじめ、RoHS規制有害物質の測定・材料分析・高速マッピング測定・異物分析の事例をご紹介します。
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 分析応用技術部 東京応用技術課
山田 充子

タイトル 最新XPSの特徴とめっきを中心とした材料評価事例の紹介

14:10~15:40
表面分析装置はめっき表面の変色や剥離など諸問題の評価に欠かせないツールとなっています。 X線光電子分光分析装置(XPSまたはESCA)は表面分析装置の中では表面組成やその結合状態に関する情報を取得できることで知られています。
本セミナーではXPSの特徴をまとめ、めっきを始めとする各種材料の評価事例を紹介します。
アルバック・ファイ株式会社 営業技術室 室長
星 孝弘

タイトル SEA6000VX HSFinderによる測定実演と高度計測センター機器見学

15:55~17:30
*班分けし順次ご見学いただきます*

主催

財団法人 神奈川科学技術アカデミー 教育情報センター、 高度計測センター

協賛

アルバック・ファイ株式会社 エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

 

問い合わせ先

教育情報センター 教育研修グループ
TEL : 044-819-2033 FAX : 044-819-2097

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