財団法人神奈川科学技術アカデミー  
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高度計測センター
地域のものづくりを試験分析サービスで徹底サポートします。


材料のナノレベルでの観察や分析、工業製品の強度測定や環境試験等まで、試験分析を通じて企業活動を支援します 。


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■技術相談

研究、開発、製造に関する技術上の課題やトラブルについてご相談に応じ、各種試験分析方法を基に総合的な検討を行うことで問題解決のお手伝いをいたします。
ご相談は無料です。
異物などのトラブル試料のお持込については、顕微鏡で観察を行いながらご相談いたします。
気軽にご連絡下さい。

受託分析サービス

各種試験分析等のご依頼を承っております。

すべての試験分析サービスについてお客様の立会いが可能です。
観察・分析サービスに是非ご利用下さい。
≫ 撮影箇所や分析箇所を指定でき、欲しい情報が的確に得られます。
≫ データを受取るだけでは得られない多くの情報を得る事ができます。
≫ 画像データはその場でお渡しできます。

形態観察・分析サービス   表面・成分分析サービス
電子顕微鏡による各種材料の高倍率観察
・断面観察・測長・分析 など
◆SEM観察・EDS分析
◆FIB加工・観察・EDS分析
◆FIB-TEM試料作製
◆TEM観察・EDS分析

各種材料の観察
・断面観察・測長・透過観察 など
◆デジタルマイクロスコープ
◆金属組織・断面研磨観察
◆SPM観察
◆マイクロフォーカスX線検査装置
◆超音波顕微鏡
  ・薄膜、多層膜の組成・状態分析
・しみ、変色の分析
・接触不良、表面汚染の分析など
・樹脂、ゴム、油、グリースの分析
・異物・付着物の分析 などのトラブル解析
  光触媒性能評価 JIS試験サービス
  ◆空気浄化性能試験
第1部 : 窒素酸化物の除去性能
◆セルフクリーニング性能試験
第1部 : 水接触角の測定
第2部 : 湿式分解性能の測定
材料強度試験・硬さ試験サービス   信頼性・環境試験サービス
◆引張・圧縮・曲げ試験
◆シャルピー衝撃試験
◆硬さ試験
◆薄膜硬度測定<ナノインデンター>
  ◆恒温恒湿試験
◆冷熱衝撃試験

 

■開放機器利用サービス
当センターの設備機器をご利用していただくことができます。

信頼性・環境試験   表面分析装置 など
製品の信頼性調査に利用されています。
◆恒温・恒湿試験機
◆冷熱衝撃試験機

電子・電気機器の品質管理に利用されています
◆EMC試験
・EMI/EMS測定小型電波暗室
・EMI測定システム
・電源高調波電流測定器 など

  ◆二次イオン質量分析装置<SIMS>
◆表面粗さ形状測定機
  微細加工装置
  TEM観察試料作製などの微細加工に利用します。
◆集束イオンビーム装置<FIB>
◆精密イオン研磨装置<ジェントルミル>
◆レーザーマーカ
非破壊検査
   
内部構造・欠陥の観察に利用されています。
◆マイクロフォーカスX線検査装置
 


■計測受託研究
研究および開発に必要な分析・計測機器を持たない企業等をサポートするための研究を受託します。お問い合わせください。

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■お問合せ先

財団法人 神奈川科学技術アカデミー
高度計測センター
〒213-0012 川崎市高津区坂戸3-2-1 KSP 東棟1F
TEL : 044-819-2105
FAX : 044-819-2108
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