公益財団法人神奈川科学技術アカデミー

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ミクロトームを活用したHIPS(耐衝撃性ポリスチレン)のSEM観察

 

事例

HIPSを広範囲で観察し、サブミクロン領域のモルフォ
ロジー評価をしたい。

 

使用機器

高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM)
ウルトラミクロトーム

 

 

納期予定

サンプル到着後、1週間から10日で結果速報。 

測定例

主に軟らかい材料に使用
例:高分子、軟金属

油状の付着物

 

利用料金項目

項目 単位 数量
試料前処理 処理時間30分につき 4
電子染色 1試料につき 1
ウルトラミクロトーム 1試料につき 1
分析走査電子顕微鏡(FE-SEM)
 観察倍率 5万倍未満
1試料1視野観察につき 1
同一試料において1視野追加観察につき 1

高度計測センター
TEL:044-819-2105  FAX:044-819-2108
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