公益財団法人神奈川科学技術アカデミー

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金めっき異常部の解析

 

事例

金めっき上に異常部が確認された。
原因について調査したい。

 

 

使用機器

集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)

 

 

測定例

めっき異常部の表面観察&分析
試料:Auめっき/Niめっき/Cu母材
 
めっき異常部の表面観察&分析
→ 内部を観察するため、FIB断面加工へ
 
めっき異常部の断面解析

めっき異常部の断面解析

FIB-SEMにより断面を作製

 
めっき異常部断面の観察
めっき異常部の断面解析

・付着物ではなく、内部から噴出した腐食生成物?
・金めっきに無数のボイド

 
めっき異常部断面の元素分析(面分析)

めっき異常部断面の元素分析(面分析)

 
めっき異常部断面の元素分析(面分析)
めっき異常部断面の元素分析(面分析)

NiとAu界面にClを含むNi酸化物が存在

 
めっきの異常部解析

~結果~
・付着物ではなく、めっき内部から噴出
・Auめっきに無数のボイド
・Au/Ni界面にClを含むNi酸化物が存在

~推定原因~
・Auめっき前の洗浄不足によりClが残留?
・Auめっきのボイドから下地(Ni)へOが供給

腐食生成物がめっき表面に形成

 

納期予定

サンプル到着後、1週間から10日で結果速報。 

 

利用料金項目

項目 単位 数量
試料前処理 処理時間30分につき 1
集束イオンビーム装置(FIB-SEM)  FIB 1時間以内 1
追加1時間あたり 1
 SEM 1試料1視野観察につき 1
同一試料において1視野追加観察につき 2
 EDS 面分析1視野につき(5元素まで) 1
面分析1元素追加につき 1

高度計測センター
TEL:044-819-2105  FAX:044-819-2108
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