公益財団法人神奈川科学技術アカデミー

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Auめっき上の極薄いシミの分析

観察例

極薄いシミの分析ができます。


使用機器

PE・PP不織布

測定例


・ワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

分析データ

正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで
シミ部分の成分がわかります。 シミ部分では
シリコンが検出されました。

納期予定


試料お預かりから概ね1週間程度で結果のご報告をいたします。
お急ぎの場合はご相談下さい。

 

利用料金項目


項目 単位 数量
X線光電子分光分析
(µ-XPS・µ-ESCA)

表面分析

1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)
追加1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)
1  
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高度計測センター
TEL:044-819-2105  FAX:044-819-2108
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