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製品や工業材料に関する試験分析

金属材料

          
概要 機器名 詳細説明・分析事例
金属組織観察 金属顕微鏡 光学顕微鏡による表面、断面観察
破断面 マクロ撮影イメージングシステム、金属顕微鏡、FE-SEM 外観観察による調査
光学顕微鏡による表面、断面観察 ・FE-SEMによる各種材料の観察
錆・腐食 金属顕微鏡 金属組織観察による材料の調査
FE-SEM/EDS、 錆・腐食部の元素分析
µ-XPS・µ-ESCA 錆・腐食物の状態分析
FIB/SEM/EDS 錆・腐食部の断面観察・元素分析
成分の分析 FE-SEM/EDS
材料の局所分析
XRF ・材料の定性分析
RoHS指令などの環境規制物質のスクリーニング分析
µ-XPS・µ-ESCA 材料の最表面の状態分析
・ステンレス不動態皮膜の解析事例
形状観察 デジタルマイクロスコープ 低倍率(0~200倍)からの試料観察
マクロ撮影イメージングシステム、金属顕微鏡 光学顕微鏡による表面、断面観察
FE-SEM/EDS 高倍率観察(30~数100,000倍)
FE-TEM/EDS 超高分解能観察(数1,000~数1,000,000倍)
・STEM/EDS & HAADF-STEMを用いた解析事例
表面形状粗さ測定機 ミクロンオーダー表面の凹凸の測定
FIB/SEM/EDS 数10nm~数10µmの範囲での断面観察
物性 各種硬度計 硬さ試験
引張・圧縮・曲げ試験 引張、圧縮、曲げ強度の測定 ※JAB認定あり
・パイプ締結部の破壊試験
シャルピー衝撃試験機 各種金属材料の粘り強さ、脆さを判定

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半導体・セラミックス

          
概要 機器名 詳細説明・分析事例
結晶性・結晶欠陥
FE-TEM/EDS 結晶・面方位の電子線回折測定、転位の超高分解能観察
・STEM/EDS & HAADF-STEMを用いた解析事例 ・FE-TEM/EDSによる材料解析の事例紹介(透明導電膜) ・高度計測センターにおける材料解析事例の紹介(窒化ガリウム)
成分の分析
FE-SEM/EDS 材料の局所分析
XRF 材料の定性分析
RoHS指令などの環境規制物質のスクリーニング分析
µ-XPS・µ-ESCA 材料の最表面の状態分析
形状観察 デジタルマイクロスコープ 低倍率(0~200倍)からの試料観察
マクロ撮影イメージングシステム、金属顕微鏡 光学顕微鏡による表面、断面観察
・電子部品の断面観察による故障解析
FE-SEM/EDS 高倍率観察(30~数100,000倍)
FE-TEM/EDS 超高分解能観察(数1,000~数1,000,000倍)
表面形状粗さ測定機 ミクロンオーダー表面の凹凸の測定
FIB/SEM/EDS 数10nm~数10µmの範囲での断面観察
物性 各種硬度計 硬さ試験
引張・圧縮・曲げ試験 引張、圧縮、曲げ強度の測定

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有機材料

          
概要 機器名 詳細説明・分析事例
成分の分析 FT-IR 樹脂・ゴムの成分分析
・異物の解析事例
FT-IR 油・グリスの成分分析
FE-SEM/EDS 材料の局所分析
XRF 材料の定性分析
XRF RoHS指令などの環境規制物質のスクリーニング分析
µ-XPS・µ-ESCA 材料の最表面の状態分析
・高分子材料の表面処理の解析事例
形状観察 デジタルマイクロスコープ
低倍率(0~200倍)からの試料観察
マクロ撮影イメージングシステム、金属顕微鏡 光学顕微鏡による表面、断面観察
FE-SEM/EDS 高倍率観察(30~数100,000倍)
FE-TEM/EDS 超高分解能観察(数1,000~数1,000,000倍)
表面形状粗さ測定機 ミクロンオーダー表面の凹凸の測定
FIB/SEM/EDS 数10nm~数10µmの範囲での断面観察
・トリプルビームFIBによる材料解析事例の紹介
物性 引張・圧縮・曲げ試験 引張、圧縮、曲げ強度の測定

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触媒

          
概要 機器名 詳細説明・分析事例
結晶性・結晶欠陥
FE-TEM/EDS 結晶・面方位の電子線回折測定、転位の超高分解能観察
成分の分析 FE-SEM/EDS 材料の局所分析
XRF 材料の定性分析
µ-XPS・µ-ESCA 材料の最表面の状態分析
形状観察 デジタルマイクロスコープ
低倍率(0~200倍)からの試料観察
マクロ撮影イメージングシステム、金属顕微鏡 光学顕微鏡による表面、断面観察
FE-SEM/EDS 高倍率観察(30~数100,000倍)
FE-TEM/EDS 超高分解能観察(数1,000~数1,000,000倍)
表面形状粗さ測定機 ミクロンオーダー表面の凹凸の測定
FIB/SEM/EDS 数10nm~数10µmの範囲での断面観察
物性 各種硬度計 硬さ試験
引張・圧縮・曲げ試験 引張、圧縮、曲げ強度の測定
光触媒 こちらを参照してください

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めっき・塗装

概要 機器名 詳細説明・分析事例
膜厚・層構造 金属顕微鏡 層構造・膜厚の観察
FE-SEM/EDS、FIB/SEM/EDS 膜厚・層構造の観察・測定
FIB/SEM/EDS めっき成分、不良部の断面加工・観察・分析
サブミクロンオーダーの膜厚・層構造の観察・測定
FE-TEM/EDS ナノオーダーの膜厚・層構造の観察・測定・分析
接点不良・導通不良 µ-XPS・µ-ESCA めっきの最表面元素・状態分析
・Auめっき上の極薄いシミの分析事例
成分の分析 FE-SEM/EDS 材料の局所分析
・トリプルビームFIBによる微細構造の解析事例
XRF 材料の定性分析
RoHS指令などの環境規制物質のスクリーニング分析
µ-XPS・µ-ESCA 材料の最表面の状態分析

薄膜・多層膜

概要 機器名 詳細説明・分析事例
膜厚・層構造 金属顕微鏡 層構造・膜厚の観察
FE-SEM/EDS、FIB/SEM/EDS 膜厚・層構造の観察・測定
FIB/SEM/EDS 不良部の断面加工・観察・分析
サブミクロンオーダーの膜厚・層構造の観察・測定
・高度計測センターにおける材料解析事例の紹介(光学薄膜)
FE-TEM/EDS ナノオーダーの膜厚・層構造の観察・測定・分析
薄膜の分析 FT-IR 薄膜・コーティング層の状態分析
µ-XPS・µ-ESCA 表面元素・状態分析
深さ方向分析 µ-XPS・µ-ESCA 薄膜、多層膜の深さ方向分析
成分の分析 FE-SEM/EDS 材料の局所分析
XRF RoHS指令などの環境規制物質のスクリーニング分析
引張、圧縮、曲げ強度の測定
µ-XPS・µ-ESCA 材料の最表面の状態分析

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粉体

概要 機器名 詳細説明・分析事例
結晶性・結晶欠陥
FE-TEM/EDS 結晶・面方位の電子線回折測定、転位の超高分解能観察
成分の分析
FE-SEM/EDS 材料の局所分析
XRF 材料の定性分析
RoHS指令などの環境規制物質のスクリーニング分析
µ-XPS・µ-ESCA 材料の最表面の状態分析
形状観察 デジタルマイクロスコープ 低倍率(0~200倍)からの試料観察
マクロ撮影イメージングシステム、金属顕微鏡 光学顕微鏡による表面、断面観察
FE-SEM/EDS 高倍率観察(30~数100,000倍)
・FE-SEMによる各種材料の観察
FE-TEM/EDS 超高分解能観察(数1,000~数1,000,000倍)
FIB/SEM/EDS 数10nm~数10µmの範囲での断面観察
光触媒 こちらを参照してください

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