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高度計測センター

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高度計測センターNEWS

このニュースは、具体的な業務事例、関連業界の共通的な技術課題に関する情報、お客様了解による試験計測サービスの事例、最新技術の解説などを適時紹介することにより、情報発信の“機関誌”をめざしております。
平成23年度発行　第7号	「異物・付着物分析の紹介/異物の解析事例」（PDF 206KB）
平成22年度発行　第6号	「走査型Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ)の紹介、ステンレス不動態皮膜の解析事例、金めっき端子上のシミの解析事例」（PDF 342KB）
平成22年度発行　第5号	「FE-SEMによる各種材料の観察、 FE-SEMによる観察事例」
平成21年度発行　第4号	「光触媒材料の性能評価、光触媒JIS試験の例」（PDF 320KB）
平成21年度発行　第3号	「透過電子顕微鏡（TEM）リニューアルの紹介 STEM/EDS & HAADF-STEMを用いた解析事例」（PDF 505KB）
平成20年度発行　第2号	「トリプルビームFIBによるTEM試料の作製トリプルビームFIBによるめっき断面観察と元素分」（PDF 1,700KB）
平成20年度発行　第1号	「パイプ締結部の破壊試験、ステンレス製ボルトの腐食と破壊」（PDF 330KB）

　　

神奈川県ものづくり技術交流会発表リスト（会場：神奈川県産業技術センター）

平成22年10月発表	高度計測センターにおける材料解析事例の紹介（PDF 206KB）
平成21年10月発表	FE-TEM／EDSによる材料解析の事例紹介（PDF 322KB）トリプルビームFIBによる材料解析事例の紹介（PDF 145KB）光触媒材料のJIS試験の現状・問題点（II）（PDF 177KB）
平成20年10月発表	電子部品の断面観察による故障解析（PDF 185KB）トリプルビームFIBによる微細構造の解析事例（PDF 374KB）光触媒材料のJIS試験の現状・問題点（PDF 113KB）

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