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受託分析サービス
形態観察・画像観察
表面分析・成分分析
光触媒JIS試験
構造解析・非破壊検査
精密加工装置
材料強度試験
温湿度環境試験
EMC試験
当センターの職員が機器を操作して、各種試験分析サービスを行います。
測定結果についての解析やコメントを希望される方には、「分析・試験等結果報告書」の作成(有料)も承ります。
※ご希望されるお客様には試験分析時の立ち会いも承っております。気軽にご利用ください。
形態観察・分析サービス
デジタルマイクロスコープ
マクロ撮影イメージングシステム
金属顕微鏡
電界放出型走査電子顕微鏡 <FE-SEM/EDS>
電界放出型透過電子顕微鏡 <FE-TEM/EDS>
集束イオンビーム装置 <トリプルビームFIB/EDS>
集束イオンビーム装置 <FIB>
走査型プローブ顕微鏡 <SPM>
マイクロフォーカスX線検査装置
超音波顕微鏡
材料強度試験・硬さ試験サービス
引張・圧縮・曲げ試験
シャルピー衝撃試験機
硬さ試験機
薄膜硬度測定装置
<ナノインデンター>
表面・成分分析サービス
走査型X線光電子分光分析装置 <µ-XPS・µ-ESCA>
オージェ電子分光分析装置 <AES・SAM>
フーリエ変換赤外分光光度計 <FT-IR>
微小蛍光X線分析装置 <XRF>
X線回折装置 <XRD>
光触媒JIS試験サービス
空気浄化性能試験 窒素酸化物の除去性能試験
セルフクリーニング試験 水接触角の測定
セルフクリーニング試験 湿式分解性能の測定
温湿度環境試験サービス
など
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TEL:044-819-2105 FAX:044-819-2108
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