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料金表（平成24年4月1日改定）

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１.受託分析料金（消費税等5%を含みます）

（1）電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM／EDS）

項目 単位 金額(円)
表面微細形態・構造観察 観察倍率5万倍未満
　1条件につき
　1条件追加につき

18,900
4,200
観察倍率5万倍以上10万倍未満
　1条件につき
　1条件追加につき

27,300
8,400
観察倍率10万倍以上
　1条件につき
　1条件追加につき

48,300
13,650
エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
(FE-SEMで撮影したものに限る)
 1条件につき
1条件追加につき
面分析１条件追加につき（5元素まで）
面分析1元素追加につき
 13,650
4,200
14,700
2,100
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（2）集束イオンビーム装置（FIB）

項目 単位 金額(円)
FIB

FIB（連続自動加工）		 1時間以内
追加1時間あたり
追加1時間あたり（但し、設定可能なものに限る）
31,500
27,300
15,750
FIBオプション（上記FIBの料金に加算）
　カーボン膜デポジション
　タングステン膜デポジション
　マイクロプロービングシステム
　アルゴンイオンミリング
10分あたり
10分あたり
1時間あたり
30分あたり


2,100
2,100
16,800
10,500

SEM

 1時間以内
追加1時間あたり
 23,100
18,900
SEMオプション
（上記SEMの料金に加算）


EDS分析測定


点分析1視野1箇所につき
点分析同一視野内で1箇所追加につき
線分析1視野1箇所につき
線分析同一視野内で1箇所追加につき
面分析1視野につき（5元素まで）
面分析1元素追加につき
各種データ処理1条件につき


15,750
5,250
21,000
7,980
31,500
2,100
5,250
マニピュレーターによるサンプリング 1試料につき

5,040
レーザーマーキング 15分以内
追加15分あたり		 4,620
3,780
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（3）電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS）

（ア） 写真撮影

項目 単位 金額(円)
微細構造撮影
結晶構造撮影
 倍率　10万倍以下
　1視野につき
　1視野増すごとに

16,800
8,400
倍率　50万倍以下
　1視野につき
　1視野増すごとに

22,050
12,600
倍率　200万倍以下
　1視野につき
　1視野増すごとに

30,450
16,800
倍率　201万倍以上
　1視野につき
　1視野増すごとに

44,100
26,250
試料傾斜調整
 1条件ごとに
 11,550
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（イ） 電子線回折

項目 単位 金額(円)
制限視野回折
 1視野につき
 14,700
微小領域回折
 1視野につき
 26,250
明視野像 1視野につき 16,800
暗視野像 1視野につき 30,450
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（ウ） エネルギー分散型X線分析装置（EDS）

項目 単位 金額(円)
点分析 1試料1測定点につき
同一試料において1測定点追加につき
25,200
5,250
定量分析 1試料1測定点につき
同一試料において1測定点追加につき
21,000
6,300
線分析 1測定5元素までごとに 63,000
面分析 1視野5元素ごとに、または2時間につき 97,650
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（エ） 試料調製

項目 単位 金額(円)
分散法
　ふりかけ法
　懸濁法
1試料につき
1試料につき
5,250
10,500
電解研磨法
 1試料につき 24,150
イオンミリング法
　易
　中
　難
1試料につき
1試料につき
1試料につき
94,500
189,000
283,500
低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル） 1試料1条件につき 12,600
樹脂包埋 1試料につき 12,600
ミクロトーム法（高分子材料）
　切削
　染色
1試料につき
1試料につき
21,000
25,200
FIB-リフトアウト法
 1試料につき
1条件追加につき		 76,650
27,300
FIB-マイクロプロービング法
 低加速ガリウムイオン仕上げ 1試料につき
1試料につき(試料作製のみ)
1条件追加につき		 105,000
121,800
27,300
アルゴンイオンミリング仕上げ 1試料につき
1試料につき(試料作製のみ)
1条件追加につき
 118,650
135,450
27,300
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（4）画像観察

項目 単位 金額(円)
金属組織写真撮影 写真1枚につき 9,240
写真焼増し 写真1枚につき 420
外観写真撮影 写真1枚につき 4,620
マクロ組織写真 写真1枚につき 7,560
写真撮影1ヶ所増すごとに 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,730
光学顕微鏡試料調製（第1種）：
容易なもの		 1試料につき 1,680
光学顕微鏡試料調製（第2種）：
比較的容易なもの		 1試料につき 3,150
光学顕微鏡試料調製（第3種）：
比較的複雑なもの		 1試料につき 6,300
光学顕微鏡試料調製（第4種）：
非常に複雑なもの 		1試料につき 9,240

デジタルマイクロスコープ 画像1枚につき
3,990
走査型プローブ顕微鏡（SPM）

 1箇所測定につき
同一箇所倍率変更測定ごとに
18,900
7,350
マイクロフォーカスX線検査装置

 30分以内
追加15分あたり
6,300
2,730

超音波顕微鏡観測
超音波顕微鏡観測（条件増）
1試料1ヶ所1条件につき
同一試料1ヶ所、または1条件増すごとに
25,200
8,400

触針式表面粗さ計
 1試料につき
追加1試料につき
3,990
2,940
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（5）表面・成分分析装置

項目 単位 金額(円)
X線光電子分光分析
（µ-XPS・µ-ESCA） 		表面分析 1試料1ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）
　　追加1試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）
1試料1ヶ所につき（ワイドおよびナロースキャン）
　　1条件増すごとに (面分析、、状態分析加算等)		 25,200
　19,950
45,150
10,500
深さ方向分析 1試料1条件につき （主成分のみ、深さ0.2μmまで）
1条件増すごとに		 80,850
10,500
オージェ電子分光分析（SAM） 表面分析
深さ方向分析
条件増
 1試料1ヶ所につき
1試料1条件につき
1条件増すごとに
 31,500
81,900
18,900
フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR） 簡易な測定 1試料につき
1試料につき		 14,700
19,950
X線回折試験（XRD） 1試料につき 21,000
微小部蛍光X線分析（XRF） 1試料1条件につき
1条件追加につき
面分析1条件につき（5元素まで）
面分析1条件追加につき		 7,350
3,150
12,600
2,100
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（6）光触媒JIS試験

項目 単位 金額(円)
光触媒の窒素酸化物除去性能試験 1試料につき 60,900
光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験
1試料につき 44,100
光触媒のトルエン除去性能試験 1試料につき 40,950
光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験 1試料につき 55,650
光触媒のセルフクリーニング性能試験　湿式分解性能の測定
　水接触角の測定
1試料につき
1試料につき
42,000
61,950
水接触角の測定（光触媒JIS試験以外）
 1試料1点につき
1点追加につき
 4,200
1,050
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（7）材料強度試験

項目 単位 金額(円)
引張・圧縮・曲げ試験（1）：
簡単な試験 		1試料1条件につき
 2,310
引張・圧縮・曲げ試験（2）：
比較的簡単な試験		 1試料1条件につき 3,780
引張・圧縮・曲げ試験（3）：
標準的な試験		 1試料1条件につき 5,250
引張・圧縮・曲げ試験（4）：
やや複雑な試験		 1試料1条件につき 6,720
引張・圧縮・曲げ試験（5）：
複雑な試験		 1試料1条件につき 9,030
高温引張試験
常温衝撃試験
低温衝撃試験		 1本につき
1本につき
1本につき 		12,600
1,260
2,100
硬さ試験 1点につき 1,050
硬さ試験試料調整（第1種）：
容易なもの		 1試料につき 1,680
硬さ試験試料調整（第2種）：
比較的容易なもの 		1試料につき 3,150
薄膜硬度測定装置
 1試料1ヶ所につき
1ヶ所増すごとに
17,850
8,400
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（8）温湿度環境試験

項目 単位 金額(円)
恒温恒湿槽（中）
恒温恒湿槽（中）　24時間増
 24時間まで
24時間増すごとに
 17,850
7,350
恒温恒湿槽（小）
恒温恒湿槽（小）　24時間増
 24時間まで
24時間増すごとに
 14,700
5,250
恒温恒湿槽（中）　サイクル
恒温恒湿槽（中）　サイクル24時間増
 24時間まで
24時間増すごとに		 22,050
8,190
恒温恒湿槽（小）　サイクル
恒温恒湿槽（小）　サイクル24時間増
 24時間まで
24時間増すごとに
 18,900
6,090
恒温槽
恒温槽　24時間増
 24時間まで
24時間増すごとに
 9,870
5,250
プレッシャークッカー試験
プレッシャークッカー試験　24時間増
 24時間まで
24時間増すごとに
 17,850
11,550
冷熱衝撃試験 （大）
冷熱衝撃試験 （大）　8時間増		 8時間まで
8時間増すごとに
 9,240
4,830
冷熱衝撃試験 （小）
冷熱衝撃試験 （小）　8時間増
 8時間まで
8時間増すごとに
 8,400
4,200
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（9）試料前処理（前項までの依頼試験を実施するものに限る）

項目 単位 金額(円)
試料前処理(切断、導電処理等) 処理時間30分につき 1,470
ターゲット断面試料作製システム(EM　TXP)による試料前処理 1試料につき
1条件追加につき
画像1枚につき 		11,550
5,250
2,100
断面試料作製用イオンミリング装置
 1試料につき
クライオの使用　1試料につき
1条件追加につき		 19,950
5,040
5,040

２. 試験分析結果報告書の作成（消費税等5%を含みます）

項目 単位 金額(円)
データ処理（難易度により加算あり）
基本単位
 5,250
考察（難易度により加算あり） 基本単位
 10,500
複本作成（写真を焼き増しする場合は別に加算する） 1通につき
 630
複本作成の写真焼増 FE-TEM
 写真1枚につき 1,050
FE-TEM以外

写真1枚につき

 420
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３. 開放機器利用料（消費税等5%を含みます）

項目 機器名 単位 金額(円)
FE-SEM/EDS 日立ハイテクノロジーズ
S-4800		 1時間以内
追加1時間あたり
 42,000
36,750
FE-TEM/EDS トプコン　EM-002BF 1時間以内
追加1時間あたり		 57,750
53,550
低エネルギーイオン研磨装置
 リンダ社 Model IV5
（ジェントルミル）
1時間につき
 10,500
集束イオンビーム装置(FIB) FEI社　FIB200 1時間以内
追加1時間あたり		 15,750
11,550
FIB・オムニプローブ 　 30分につき 4,620
集束イオンビーム装置(FIB) SII社　XVision200TB 1時間以内
追加1時間あたり		 54,600
47,250
TIME用グリット 　 1個につき 3,570
マニピュレーター ナリシゲ　SISA-30TI-2 30分につき
 2,730
レーザーマーカ HOYA　LR2100ST 30分以内
追加30分あたり
 4,200
2,730
フーリエ変換赤外分光光度計 日本電子　JIR-5500 1時間につき 7,980
X線回折装置 理学電機　RINT1500 1時間につき
追加1時間あたり
 10,500
6,510
微小部蛍光X線分析装置 SII社　SEA6000VX　HSFinder 1時間につき 5,250
金属顕微鏡 オリンパス光学工業　BX-51 1時間につき 1,470
デジタルマイクロスコープ キーエンス　VHX-600 30分以内
追加30分あたり		 2,940
1,470
走査型プローブ顕微鏡システム デジタルインスツルメント社　NanoScope IV 1時間につき 32,550
マイクロフォーカスX線検査装置 メディエックステック　MXT-160UU 30分以内
追加15分あたり		 3,570
1,470
表面粗さ形状測定機 東京精密サーフコム550A 1時間につき 1,260
薄膜硬度測定装置 HYSITRON社　TRIBOSCOPE 1時間以内
追加30分あたり		 6,720
2,520
恒温槽（室温～300℃）
 エスペック　PVH-110M
 1時間につき 420
恒温恒湿槽（小）：-40～150℃
 楠本化成 ETAC TH411HA
 1時間につき 630
恒温恒湿槽（中）：-40～150℃
 楠本化成 ETAC FX424P
 1時間につき 840
恒温恒湿槽：-40～100℃
 エスペック　PL-3FPW
 1時間につき 840
プレッシャークッカー
 楠本化成 ETAC PM420
 1時間につき 840
冷熱衝撃試験機（小）
 楠本化成 ETAC TS100
 1時間につき 1,050
冷熱衝撃試験機（大）
 エスペック　TSA-71H 1時間につき 1,260
超低温恒温恒湿槽：-70～150℃
 エスペック　PSL-2KPH
 1時間につき 840
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項目 機器名 単位 金額(円)
電波暗室
（測定帯域 30MHz～1GHzの場合）		 TDK製（3ｍ法）
 1時間以内
追加30分あたり
 7,770
3,360
電波暗室
（測定帯域 1GHz～18GHzの場合）		 TDK製（3ｍ法） 1時間以内
追加30分あたり
 8,820
3,990
EMI測定システム アドバンテスト　R3172他 1時間以内
追加30分あたり
 4,200
1,680
インピーダンス安定化回路網（ISN） TESEQ社　ISN T8,T8CAT6 1時間以内
追加30分あたり		 1,890
630
電源高調波電流測定器

Voltec　PM3000ACE他

 1時間以内
追加30分あたり		 2,730
840
簡易放射イミュニティ試験器 サーモフィッシャー　G-strip 1時間以内
追加30分あたり		 4,410
1,890
パルスイミュニティ試験器 サーモフィッシャー　EMC-Pro 1時間以内
追加30分あたり		 5,250
2,100
静電気試験器 ノイズ研究所　ESS-200AX 1時間以内
追加30分あたり		 4,830
1,890
伝導イミュニティ試験器

SCHAFFNER　NSG2070

 1時間以内
追加30分あたり		 5,460
2,100
電磁波妨害源探査装置 ノイズ研究所　EPS-M1 1時間以内
追加30分あたり		 4,830
2,100
ノイズ発生器 ヨーク社　CNE III 1時間につき 840
オシロスコープ レクロイ　WaveRunner62Xi
 1時間につき 2,310
カーブ・トレーサ ソニーテクトロニクス 571型 1時間につき 630
ダブルブリッジ 横河電機 2752型 1時間につき 630
ホイーストンブリッジ 横河電機 2768型 1時間につき 420
エレクトロニック検流計 横河電機 2709型 1時間につき 420
ACミリオームハイテスター 日置電機 3560 1時間につき 630
マルチフリケンシLCRメータ YHP 4284A、4285A 1時間につき 840
超絶縁計 日置電機 SM-8220 1時間につき 210
交流耐電圧試験器 日置電機 3158 1時間につき 210
接触角計
協和界面科学 DM300 1時間あたり 3,150
紫外可視分光光度計
 島津製作所 UV-1800 1時間あたり 2,730
万能材料試験機（100トン） 前川 MR型 1時間につき 3,990
耐圧試験機 東京衡機　CM-100T 1時間につき 420
旋盤
 ワシノ　LR55A
 1時間につき 420
フライス盤 フリードリッヒデッケル
FP-1		 1時間につき 1,890
切断機 ニシムラ　NM-60 1時間につき 1,050
ボール盤 並木機械　NBD-340LR
 1時間につき 210
機器操作指導料（開放利用時に適用） 立会人1人、
15分あたり		 2,520

お問合せ先

高度計測センター
TEL ： 044-819-2105  FAX ： 044-819-2108
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