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料金表(平成28年4月1日改定)


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1.受託分析料金(消費税等8%を含みます)

(1)電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)

項目 単位 金額(円)
表面微細形態・構造観察 観察倍率5万倍未満
 1条件につき
 1条件追加につき

19,440
4,320
観察倍率5万倍以上10万倍未満
 1条件につき
 1条件追加につき

28,080
8,640
観察倍率10万倍以上
 1条件につき
 1条件追加につき

49,680
14,040
エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
(FE-SEMで撮影したものに限る)
1条件につき
1条件追加につき
面分析1条件追加につき(5元素まで)
面分析1元素追加につき
14,040
4,320
15,120
2,160
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(2)高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM / EDS)

項目 単位 金額(円)
SEM観察 観察倍率5万倍未満
 1試料1視野観察につき
 同一試料において1視野追加観察につき

19,440
4,320
観察倍率5万倍以上10万倍未満
 1試料1視野観察につき
 同一試料において1視野追加観察につき

28,080
8,640
観察倍率10万倍以上
 1試料1視野観察につき
 同一試料において1視野追加観察につき

49,680
14,040
1試料の観察視野が10~15視野につき
(観察倍率関係なし。但し、設定可能な試料に限る)
108,000
1試料の観察視野が16~30視野につき
(観察倍率関係なし。但し、設定可能な試料に限る)
162,000
低真空モードの使用   10,800
透過像観察機能(STEM)の使用   10,800
1条件追加につき   10,800
Arクリーナーの使用10分につき   2,160
エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
(高分解能分析走査電子顕微鏡で
撮影したものに限る)
点分析1視野1箇所につき
点分析同一視野内で1箇所追加につき
線分析1視野1箇所につき
線分析同一視野内で1箇所追加につき
面分析1視野につき(5元素まで)
面分析1元素追加につき
各種データ処理1条件につき
16,200
5,400
21,600
8,208
32,400
2,160
5,400
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(3)集束イオンビーム装置(FIB)

項目 単位 金額(円)
FIB

FIB(連続自動加工)
1時間以内
追加1時間あたり
追加1時間あたり(但し、設定可能なものに限る)
32,400
28,080
16,200
FIBオプション(上記FIBの料金に加算)
 カーボン膜デポジション
 タングステン膜デポジション
 マイクロプロービングシステム
 アルゴンイオンミリング

10分あたり
10分あたり
1時間あたり
30分あたり


2,160
2,160
17,280
10,800

SEM

1試料1視野観察につき
同一試料において1視野追加観察につき
同一試料において1条件追加につき
19,440
4,320
4,320
SEMオプション
(上記SEMの料金に加算)


EDS分析測定


点分析1視野1箇所につき
点分析同一視野内で1箇所追加につき
線分析1視野1箇所につき
線分析同一視野内で1箇所追加につき
面分析1視野につき(5元素まで)
面分析1元素追加につき
各種データ処理1条件につき


16,200
5,400
21,600
8,208
32,400
2,160
5,400

三次元再構築用連続断面画像の取得 1測定につき
1条件追加につき
108,000
10,800
微小試験片の作製
  標準的な作製(SEM観察含む)
  複雑な作製(SEM観察含む)

 5本につき
 5本につき
 1条件追加につき

172,800
259,200
10,800
マニピュレーターによるサンプリング 1試料につき

5,184

レーザーマーキング 15分以内
追加15分あたり
4,752
3,888
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(4)画像解析システム

項目 単位 金額(円)
三次元再構築
データ処理
1測定対象につき
1条件追加につき
54,000
10,800

 

(5)電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)

(ア) TEM観察

項目 単位 金額(円)
微細構造撮影
結晶構造撮影
倍率 10万倍以下
 1視野につき
 1視野増すごとに

17,280
8,640
倍率 50万倍以下
 1視野につき
 1視野増すごとに

22,680
12,960
倍率 200万倍以下
 1視野につき
 1視野増すごとに

31,320
17,280
倍率 201万倍以上
 1視野につき
 1視野増すごとに

45,360
27,000
試料傾斜調整
1条件ごとに
11,880
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(イ) 電子線回折

項目 単位 金額(円)
制限視野回折
1視野につき
15,120
微小領域回折
1視野につき
27,000
明視野像 1視野につき 17,280
暗視野像 1視野につき 31,320
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(ウ) エネルギー分散型X線分析装置(EDS)

項目 単位 金額(円)
点分析 1試料1測定点につき
同一試料において1測定点追加につき
25,920
5,400
定量分析 1試料1測定点につき
同一試料において1測定点追加につき
21,600
6,480
線分析 1測定5元素までごとに 64,800
面分析 1視野5元素ごとに、または2時間につき 100,440
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(エ) データ処理

項目 単位 金額(円)
各種データ処理 1条件につき 10,800
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(オ) 試料調製

項目 単位 金額(円)
分散法
 ふりかけ法
 懸濁法

1試料につき
1試料につき

5,400
10,800
電解研磨法
1試料につき 24,840
イオンミリング法
 易
 中
 難

1試料につき
1試料につき
1試料につき

97,200
194,400
291,600
低エネルギーイオンミリング(ジェントルミル) 1試料1条件につき 12,960
樹脂包埋 1試料につき 12,960
電子染色 1試料につき 25,920
FIB-リフトアウト法
1試料につき
1条件追加につき
78,840
28,080
FIB-マイクロプロービング法
低加速ガリウムイオン仕上げ 1試料につき
1試料につき(試料作製のみ)
1条件追加につき
108,000
125,280
28,080
アルゴンイオンミリング仕上げ 1試料につき
1試料につき(試料作製のみ)
1条件追加につき
122,040
139,320
28,080
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(6)画像観察

項目 単位 金額(円)
金属組織写真撮影 写真1枚につき 9,504
写真焼増し 写真1枚につき 432
外観写真撮影 写真1枚につき 4,752
マクロ組織写真 写真1枚につき 7,776
写真撮影1ヶ所増すごとに 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,808
光学顕微鏡試料調製(第1種):
容易なもの
1試料につき 1,728
光学顕微鏡試料調製(第2種):
比較的容易なもの
1試料につき 3,240
光学顕微鏡試料調製(第3種):
比較的複雑なもの
1試料につき 6,480
光学顕微鏡試料調製(第4種):
非常に複雑なもの
1試料につき 9,504

デジタルマイクロスコープ 画像1枚につき
4,104
マイクロフォーカスX線検査装置

30分以内
追加15分あたり
6,480
2,808

触針式表面粗さ計
1試料につき
追加1試料につき
4,104
3,024
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(7)表面・成分分析装置

項目 単位 金額(円)
X線光電子分光分析
(µ-XPS・µ-ESCA)
表面分析 1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)
  追加1試料1ヶ所につき(ワイドスキャンのみ)
  1条件増すごとに(ワイドスキャンのみ)
1試料1ヶ所につき(ワイドおよびナロースキャン)
  1条件増すごとに (面分析、、状態分析加算等)
25,920
 20,520
5,400 46,440
10,800
深さ方向分析 1試料1条件につき (主成分のみ、深さ0.2μmまで)
1条件増すごとに
83,160
10,800
フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 簡易な測定 1試料1条件につき
1試料1条件につき
1条件追加につき
9,720
19,440
9,720
微小部蛍光X線分析(XRF) 1試料1条件につき
1条件追加につき
面分析1条件につき(5元素まで)
面分析1条件追加につき
7,560
3,240
12,960
2,160
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(8)光触媒JIS試験

項目 単位 金額(円)
光触媒の窒素酸化物除去性能試験 1試料につき 62,640
光触媒の窒素酸化物除去性能試験
-再生率-
1試料につき 19,440
光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験
1試料につき 45,360
光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験
-バッグ法
1試料につき 39,960
光触媒のトルエン除去性能試験 1試料につき 42,120
光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験 1試料につき 57,240
光触媒のセルフクリーニング性能試験 
 湿式分解性能の測定
 水接触角の測定

1試料につき
1試料につき

43,200
63,720
その他光触媒性能試験 1時間につき 6,480
光触媒性能試験JIS試験条件不成立時 (試験途中中止時) 1試料につき 21,600
水接触角の測定(光触媒JIS試験以外)
1試料1点につき
1点追加につき
4,320
1,080
光触媒試料調製 処理時間30分につき 3,240
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(9)太陽電池計測

項目 単位 金額(円)
太陽電池のIPCE測定 1試料につき
1試料または1条件追加につき
37,800
10,584
太陽電池のI-V測定
1試料につき
1試料または1条件追加につき
38,880
10,800
太陽電池のI-V測定
(LED-SSによる特定波長の光による測定)
1試料につき
1試料または1条件追加につき
28,080
8,208
蛍光灯式シミュレータによるI-V測定 1試料につき
1試料または1条件追加につき
10,800
3,888
XeランプSSによる連続照射
(150mm角まで 山下電装YSS-150Aを使用)
24時間につき
追加24時間につき
20,520
18,360
LED-SSによる特定波長の光照射
24時間につき
追加24時間につき
28,080
25,920
蛍光灯式シミュレータによる連続照射
24時間につき
追加24時間につき
21,600
19,440
連続光照射に伴う簡易なI-V測定
1回につき 3,240
太陽電池のインピーダンス測定
1試料につき 12,960
発電面積規定用遮光マスク(面積測定済み)
1枚につき 1,728
紫外線照射試験機
(東洋精機製作所 Atlas UV test)
24時間につき
連続運転100時間につき
5,616
20,520
小型Xe耐光試験機
(東洋精機製作所 Atlas SUNTEST XLS+)
24時間につき
連続運転100時間につき
6,912
23,760
紫外・可視分光光度計による透過率・反射率測定 1試料1条件につき
追加1条件につき
5,832
3,456
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(10)材料強度試験

項目 単位 金額(円)
引張・圧縮・曲げ試験(1):
簡単な試験
1試料1条件につき
2,376
引張・圧縮・曲げ試験(2):
比較的簡単な試験
1試料1条件につき 3,888
引張・圧縮・曲げ試験(3):
標準的な試験
1試料1条件につき 5,400
引張・圧縮・曲げ試験(4):
やや複雑な試験
1試料1条件につき 6,912
引張・圧縮・曲げ試験(5):
複雑な試験
1試料1条件につき 9,288
高温引張試験
常温衝撃試験
低温衝撃試験
1本につき
1本につき
1本につき
12,960
1,296
2,160
硬さ試験 1点につき 1,080
硬さ試験試料調整(第1種):
容易なもの
1試料につき 1,728
硬さ試験試料調整(第2種):
比較的容易なもの
1試料につき 3,240
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(11)温湿度環境試験

項目 単位 金額(円)
恒温恒湿槽(中)
恒温恒湿槽(中) 24時間増
24時間まで
24時間増すごとに
18,360
7,560
恒温恒湿槽(小)
恒温恒湿槽(小) 24時間増
24時間まで
24時間増すごとに
15,120
5,400
恒温恒湿槽(中) サイクル
恒温恒湿槽(中) サイクル24時間増
24時間まで
24時間増すごとに
22,680
8,424
恒温恒湿槽(小) サイクル
恒温恒湿槽(小) サイクル24時間増
24時間まで
24時間増すごとに
19,440
6,264
恒温槽
恒温槽 24時間増
24時間まで
24時間増すごとに
10,152
5,400
プレッシャークッカー試験
プレッシャークッカー試験 24時間増
24時間まで
24時間増すごとに
18,360
11,880
冷熱衝撃試験 (大)
冷熱衝撃試験 (大) 8時間増
8時間まで
8時間増すごとに
9,504
4,968
冷熱衝撃試験 (小)
冷熱衝撃試験 (小) 8時間増
8時間まで
8時間増すごとに
8,640
4,320
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(12)試料前処理(前項までの依頼試験を実施するものに限る)

項目 単位 金額(円)
試料前処理(切断、導電処理等) 処理時間30分につき 1,512
精密機械研磨法
 A:容易な試料
 B:標準的な試料
 C:複雑な試料
 D:非常に複雑な試料

1試料につき
1試料につき
1試料につき
1試料につき
1条件追加につき

10,800
21,600
32,400
43,200
5,400
試料の撮影 1試料1視野につき 2,160
断面イオンミリング法
 A:容易な試料
 B:標準的な試料
 C:複雑な試料
 D:非常に複雑な試料

1試料につき
1試料につき
1試料につき
1試料につき
1条件追加につき
クライオの使用  1試料につき

21,600
43,200
64,800
86,400
5,400
5,400
平面イオンミリング法
 A:容易な試料
 B:標準的な試料
 C:複雑な試料
 D:非常に複雑な試料

1試料につき
1試料につき
1試料につき
1試料につき
1条件追加につき
クライオの使用  1試料につき

10,800
21,600
32,400
43,200
5,400
5,400
イオンビームスパッタ 処理時間30分につき 5,400
ウルトラミクロトーム法
 A:容易な試料
 B:標準的な試料
 C:複雑な試料
 D:非常に複雑な試料

1試料につき
1試料につき
1試料につき
1試料につき
1条件追加につき
クライオの使用  1試料につき

21,600
43,200
64,800
86,400
5,400
54,000
分散法
 ふりかけ法
 懸濁法

1試料につき
1試料につき

5,400
10,800
電解研磨法 1試料につき 24,840
イオンミリング法
 易
 中
 難

1試料につき
1試料につき
1試料につき

97,200
194,400
291,600
低エネルギーイオンミリング(ジェントルミル) 1試料1条件につき 12,960
樹脂包埋 1試料につき 12,960
電子染色 1試料につき 25,920
その他特殊処理 1試料につき
1条件追加につき
16,200
16,200

2. 試験分析結果報告書の作成(消費税等8%を含みます)

項目 単位 金額(円)
データ処理(難易度により加算あり)
基本単位
5,400
考察(難易度により加算あり) 基本単位
10,800
複本作成(写真を焼き増しする場合は別に加算する) 1通につき
648
複本作成の写真焼増 FE-TEM
写真1枚につき 1,080
FE-TEM以外

写真1枚につき

432
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3. 機器開放利用料(消費税等8%を含みます)

項目 機器名 単位 金額(円)
FE-SEM/EDS 日立ハイテクノロジーズ
S-4800
1時間以内
追加1時間あたり
43,200
37,800
FE-TEM/EDS トプコン EM-002BF 1時間以内
追加1時間あたり
59,400
55,080
低エネルギーイオン研磨装置
リンダ社 Model IV5
(ジェントルミル)
1時間につき
10,800
集束イオンビーム装置(FIB) SII社 XVision200TB 1時間以内
追加1時間あたり
56,160
48,600
TEM用グリッド   1個につき 3,672
マニピュレーター ナリシゲ SISA-30TI-2 30分につき
2,808
レーザーマーカ HOYA LR2100ST 30分以内
追加30分あたり
4,320
2,808
フーリエ変換赤外分光光度計 日本分光 FT/IR-6300 1時間につき 8,640
微小部蛍光X線分析装置 SII社 SEA6000VX HSFinder 1時間につき 5,400
金属顕微鏡 オリンパス光学工業 BX-51 1時間につき 1,512
デジタルマイクロスコープ キーエンス VHX-600 30分以内
追加30分あたり
3,024
1,512
マイクロフォーカスX線検査装置 メディエックステック MXT-160UU 30分以内
追加15分あたり
3,672
1,512
表面粗さ形状測定機 東京精密 サーフコム550A 1時間につき 1,296
恒温槽:室温~300℃
エスペック PVH-110M
1時間につき 432
恒温恒湿槽(小):-40~150℃
楠本化成 ETAC TH411HA
1時間につき 648
恒温恒湿槽(中):-40~150℃
楠本化成 ETAC FX424P
1時間につき 864
恒温恒湿槽:-40~100℃
エスペック PL-3FPW
1時間につき 864
プレッシャークッカー
楠本化成 ETAC PM420
1時間につき 864
冷熱衝撃試験機(小)
楠本化成 ETAC TS100
1時間につき 1,080
冷熱衝撃試験機(大)
エスペック TSA-71H 1時間につき 1,296
超低温恒温恒湿槽:-70~150℃
エスペック PSL-2KPH
1時間につき 864
紫外・可視分光光度計 日立ハイテクサイエンス
UH4150
1時間以内
追加30分あたり
7,776
2,592
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項目 機器名 単位 金額(円)
電波暗室
(測定帯域 30MHz~1GHz)
TDK製(3m法)
1時間以内
追加30分あたり
7,992
3,456
電波暗室
(測定帯域 1GHz~18GHz)
TDK製(3m法) 1時間以内
追加30分あたり
9,072
4,104
シールドルーム ノイズ研究所製 1時間以内
追加30分あたり
3,024
1,080
シールドテント 富山電気ビルディング製 1時間以内
追加30分あたり
2,808
1,296
EMI測定システムA
 (放射雑音測定)
キーサイトN9010A 1時間以内
追加30分あたり
5,184
1,512
EMI測定システムA
 (伝導性雑音測定)
キーサイトN9010A 1時間以内
追加30分あたり
4,104
1,080
EMI測定システムB
 (伝導性雑音測定のみ)
アドバンテスト R3172他
(Peak/QP検波のみ)
1時間以内
追加30分あたり
2,808
864
インピーダンス安定化回路網(ISN) TESEQ社 ISN T8,T8CAT6 1時間以内
追加30分あたり
1,296
216
電源高調波電流測定器 Voltec PM3000ACE他 1時間以内
追加30分あたり
2,808
864
簡易放射イミュニティ試験器 サーモフィシャー G-strip 1時間以内
追加30分あたり
4,536
1,944
パルスイミュニティ試験器 サーモフィシャー EMC-Pro 1時間以内
追加30分あたり
2,808
1,296
静電気試験器 ノイズ研究所 ESS-S3011&GT-30R 1時間以内
追加30分あたり
2,808
1,296
伝導イミュニティ試験器 SCHAFFNER NSG2070 1時間以内
追加30分あたり
3,024
1,512
ノイズシュミレータ ノイズ研究所 INS-4040 1時間以内
追加30分あたり
3,024
1,512
電磁波妨害源探査装置 ノイズ研究所 EPS-M1 1時間以内
追加30分あたり
2,592
1,296
ノイズ発生器 ヨーク社 CNE III 1時間につき 864
オシロスコープ レクロイ WaveRunner62Xi
1時間につき 2,376
カーブ・トレーサ ソニーテクトロニクス 571型 1時間につき 648
ACミリオームハイテスター 日置電機 3560 1時間につき 648
マルチフリケンシLCRメータ YHP 4284A、4285A 1時間につき 864
超絶縁計 日置電機 SM-8220 1時間につき 216
交流耐電圧試験器 日置電機 3158 1時間につき 216
接触角計
協和界面科学 DM300 1時間あたり 3,240
万能材料試験機:100トン 前川 MR型 1時間につき 4,104
耐圧試験機 東京衡機 CM-100T 1時間につき 432
旋盤
ワシノ LR55A
1時間につき 432
フライス盤 フリードリッヒデッケル
FP-1
1時間につき 1,944
切断機 ニシムラ NM-60 1時間につき 1,080
ボール盤 並木機械 NBD-340LR
1時間につき 216
機器操作指導料(開放利用時に適用) 立会人1人、
15分あたり
2,592

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高度計測センター
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