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  KASTメールマガジン  臨時号 (2011.1.7)
  発行:財団法人神奈川科学技術アカデミー  http://www.newkast.or.jp/
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  明けましておめでとうございます。今年もKASTメルマガをよろしくお願いします!

 さて、新年早々ではありますが、臨時号のお届けです。

 今年の第一段として、お得な情報を用意させて頂きました!
◆◆ 1/7 臨時号 ◆◆

◆ 『XPS・XRF分析セミナー開催』 ★無料!実機デモ付き★

〜 RoHS規制対応、めっき試料の分析を最新の機種と高度な分析テクニックでサポートします 〜

 KAST高度計測センターでは、今年度から「走査型X線光電子分光分析装置(μ-XPS)」と「微小部蛍光X線分析装置(XRF)」を導入しました。

 素材の定性分析、RoHS規制対応、めっき試料の極表面分析(nmレベル)など、性能評価や品質保証に関わる重要な場面で、従来よりも高精度の分析・測定を実現します。

 今回はこの2機種による分析事例紹介と、機器デモを中心とした分析セミナーを開催いたします。

日時:
平成23年1月20日(木)  13:00〜17:30
場所:
かながわサイエンスパーク内 (神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1)
定員:
60名 (事前登録制 先着順)
参加費:
無料
協賛:
アルバック・ファイ株式会社、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
★彡 詳細・申込みはこちら
http://www.newkast.or.jp/kyouiku/kouzaboshu/ed22_koudo.html
★彡 お問い合わせ先
教育情報センター 教育情報グループ (遠藤)
電話: 044-819-2032、 FAX: 044-819-2097、 E-mail: ed@newkast.or.jp

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